半导电屏蔽体积电阻率智能测试仪

半导电屏蔽体积电阻率智能测试仪依据标准为GB3048.4-2007、GB3048.3-2007、GB3956-2008、GB/T12706.2-2008GB/T12706.32008GB/T11017.1-11017.3-2002、GB/T28427-2012。

半导电屏蔽体积电阻率智能测试仪试验标准TEST STANDARD：符合GB/T3048.3《半导电橡塑材料体积电阻率》试验方法。适用范围SCOPE：本机适用于测量电线电缆用橡胶和塑料半导电材料的体格电阻率。

仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头和测试台等三部分组成。

主机主要由数控恒流源，高分辨率 ADC、嵌入式单片机系统组成。自动/手动量程可选；电阻率、方阻、电阻测试类别快捷切换：仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入，简便可靠；具有零位、满度自校功能；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电锂电池供电，适合手持式变动场合操作使用！

探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO 膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头， 也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

仪器具有测量范围宽、精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、外形美观、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。